Ha pasado ya mucho tiempo desde que a mediados del siglo XX se desarrollaron las primeras herramientas de análisis de modos de fallo y sus efectos. El FMEA (Failure Modes and Effects Analysis) en sus siglas en inglés se utilizó inicialmente en los sectores militar y aeroespacial. En los años 70 fue adoptado por Ford […]

El objetivo ideal en la fabricación electrónica es hacerlo todo bien a la primera. Si lo consiguiéramos podríamos eliminar el test. ¿Para qué sirve probar algo que está bien? Es una pérdida de tiempo que no aporta valor añadido y que además puede generar incertidumbres y pérdida de productividad si nos da falsos fallos o […]

El sistema de test “Boundary-Scan”, también conocido como “JTAG” es una técnica de ensayo de “escaneo de límites” en sistemas electrónicos para circuitos integrados o chips (microprocesadores, microcontroladores, memorias, chipsets,etc…) Para ello, estos deben ser compatibles con este sistema con el objeto de poder verificar sus conexiones eléctricas que, por su formato encapsulado, no están […]