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El objetivo ideal en la fabricación electrónica es hacerlo todo bien a la primera. Si lo consiguiéramos podríamos eliminar el test. ¿Para qué sirve probar algo que está bien? Es una pérdida de tiempo que no aporta valor añadido y que además puede generar incertidumbres y pérdida de productividad si nos da falsos fallos o fallos de funcionamiento del propio probador.

ikor_0-defectsPero la realidad es que los errores, aun siendo mínimos, existen. Ni los humanos ni las máquinas somos perfectos. Además, los requerimientos de los clientes van hacia “cero defectos” o niveles de PPMs extremadamente bajos. Por ese motivo eliminar el test es algo que nunca recomendamos en IKOR.

Al analizar la fabricabilidad de un circuito en un DFMA no debemos olvidarnos de la testabilidad. Es importante que se incluyan puntos de test. Pero no siempre es posible. A veces debido a que el circuito es de alta frecuencia y los puntos de test con sus pistas asociadas pueden provocar efectos de antena. Otras veces porque la densidad de componentes es tan grande que no hay espacio físico.

Una opción que ofrecemos en IKOR es el Flying probe, que es un tipo de test ICT. El test ICT (In Circuit Test) consiste en un tipo de prueba eléctrica en la que los componentes son medidos uno a uno a gran velocidad. Normalmente los ICTs que utilizamos en IKOR se basan en camas de pinchos con tantas agujas como nodos tenga el circuito. Y cada nodo tiene asociado un punto de test, que es donde realmente pinchamos. Pero ¿qué ocurre cuando el circuito no tiene puntos de test? ¿O cuando el circuito no está maduro y puede requerir modificaciones?

En IKOR ofrecemos una solución cuando los volúmenes de producción son pequeños o medios. El flying probe tiene sus ventajas respecto al ICT standard en cama de pinchos. No es necesario que haya puntos de test, ya que podemos pinchar directamente en terminales de componentes, esto nos da mayor flexibilidad. El motivo es que con un Flying probe sólo cambiamos el software de test, mucho más rápido y económico que cambiar la cama de pinchos. Incluso es una buena opción arrancar el proyecto con un test Flying probe durante las etapas iniciales, en los casos en los que el time to market es importante, y posteriormente cuando el volumen sube y el producto está depurado cambiar al test ICT en cama de pinchos.

Pero, ¿por qué no es una buena solución si los volúmenes son altos? El tiempo de test es más lento que en un ICT de cama de pinchos. Por eso cada sistema tiene su momento, su tipo de producto o su volumen de producción.

Ambos sistemas se complementan y en IKOR ofrecemos el que mejor se adapta a la necesidad del cliente.

 

 

 

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Sobre Ikor

Somos una compañía global comprometida con la innovación que ofrece servicios integrales de diseño y fabricación de circuitos electrónicos (EMS) incluyendo soluciones completas de cadena de suministro a las compañías industriales y tecnológicas líderes en el mundo.

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Quality, Technology

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