BoundarySCAN_IKOR
29/10/2015

Boundary Scan

El sistema de test “Boundary-Scan”, también conocido como “JTAG” es una técnica de ensayo de “escaneo de límites” en sistemas electrónicos para circuitos integrados o chips (microprocesadores, microcontroladores, memorias, chipsets,etc…) Para ello, estos deben ser compatibles con este sistema con el objeto de poder verificar sus conexiones eléctricas que, por su formato encapsulado, no están accesibles físicamente a los sistemas de test tradicionales. De esta forma se puede reducir el tiempo de testeo, de depuración y además aumentar la fiabilidad.

En 1985 un comité compuesto por profesionales de varias compañías de electrónica formaron el “Joint Test Action Group” o JTAG con el objetivo de desarrollar un método de prueba alternativo que eliminase o minimizase lo máximo posible las limitaciones de los test “In-Circuit” o ICT en los nuevos diseños de SMD.

En 1990 el Instituto de Ingeniería Eléctrica y Electrónica (IEEE) lo codificó en el estándar IEEE 1149.1-1990 titulado “Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture”.

La prueba de Boundary-Scan básicamente consiste en el acceso a las conexiones de entrada/salida o puertos de E/S del chip mediante una comunicación en serie, normalmente con un adaptador para PC, bien para leer su estado o incluso para cambiarlo. De esta forma se puede comprobar si una determinada entrada está en un estado que no le corresponde, o que al forzar otra salida hay un cambio en otra u otras entradas indicando la presencia de un cortocircuito o incluso de varios.

También se puede detectar un circuito abierto o una mala soldadura al comprobar que una entrada no cambia su estado cuando debería hacerlo al forzar el cambio en una salida concreto.

Para el testeo de varios chips Boundary-Scan, éstos normalmente se ponen en cascada o en cadena de tal forma que el primer chip que comunica con el adaptador Boundary-Scan para PC también está conectado al segundo chip, este segundo chip está conectado con un tercer chip y así hasta el último chip que estará conectado éste último también al adaptador de PC para sacar los datos de todos los chips.

Otra de las ventajas del Boundary-Scan es que permite comprobar otros dispositivos o chips que no son Boundary-Scan como por ejemplo una memoria RAM. Si nos centramos en este caso, la memoria conectada a un microprocesador que sí es Boundary-Scan, permite que al cambiar y leer los puertos de E/S del microprocesador se está accediendo a dicha memoria RAM permitiendo escribir y leer datos en ella comprobando así su funcionamiento.

IKOR_ Boundary Scan

Además, al igual que en el ejemplo anterior con una memoria RAM, también es posible leer, grabar o programar otros dispositivos como memorias FLASH, microcontroladores, etc., evitando así la necesidad de tener un programador específico para dichos dispositivos.

La comunicación con el dispositivo Boundary-Scan normalmente se hace con un adaptador que se conecta a un PC y al circuito electrónico en el que se ha provisto de un conector especial para el test Boundary-Scan. En el PC se ejecuta un programa o software de testeo en el cual se detecta el dispositivo o dispositivos Boundary-Scan conectados, se puede leer y cambiar el estado de las entradas y salidas, ejecutar secuencias de test, prueba e incluso programación de otros dispositivos no Boundary-Scan, etc.

Este sistema de testeabilidad es una herramienta que en IKOR llevamos aplicando desde hace muchos años. Lo utilizamos desde la fase de diseño y lo ofrecemos a nuestros clientes en la industrialización de productos con el objetivo de ahorrar tiempo de prueba, reducir coste y aumentar la fiabilidad de los sistemas electrónicos respecto a los sistemas ICT. En algunos casos, el Boundary Scan sirve como un apoyo para incluso mejorar la fiabilidad de una inspección por rayos X, medio que IKOR dispone y permite comprobar las conexiones inaccesibles e invisibles.

 

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